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‧ [ Keysight ] 2015 雷達通訊與元件測試技術研討會_0414(二)< 回上頁2015-03-24

簡介

精準之設計及量測解決方案為現代國防與航太工業進展之重要推手,本研討會由是德科技 (前安捷倫科技電子量測事業群) 與克達科技及凌華國際所共同舉辦,內容涵蓋航太與國防量測技術發展趨勢、電戰信號模擬、脈衝分析、天線及雷達相關應用、高頻元件設計、系統及傳輸線故障查找、高功率下元器件保護等最新議題,現場亦備有多項熱門實機展示,讓您得以親身體驗最先進之量測科技。


講題與時程

Time Paper
08:40~09:05 Registration/Demo Booth 報到/展示攤技術交流
09:05~09:10 Welcome Opening 致歡迎詞
 
09:10~10:00 Test & Measurement Trends for Aerospace and Defense
航太與國防量測技術發展趨勢
梁雄峰 / 是德科技市場開發經理
10:00~10:50 Enhancing Signal Simulation for Electronic Warfare Test
優化電戰測試之信號模擬解決方案
張式先 / 是德科技資深專案經理
10:50~11:10 Tea Break & Demo Booths 茶點休息及實機展示
11:10~12:00 Understanding New Pulse-analysis Techniques
脈衝分析新技術之綜合探討
蘇千翔 / 是德科技資深專案經理
12:00~12:50 Lunch & Demo Booths 午餐及實機展示
12:50~13:40 Reducing Phase Errors and Test Times for Phased Array/Horn Antennas
有效降低相控陣列 / 號角天線之相位誤差與測試時間
廖康佑 / 是德科技資深專案經理
13:40~14:20 Reducing Time-to-Repair for Complex MILCOM Systems through Innovative Measurement and Characterization of Transmission Lines
嶄新之傳輸線特性量測方法提升軍用通信系統故障查找之效率
廖康佑 / 是德科技資深專案經理
14:20~14:40 Tea Break & Demo Booths 茶點休息及實機展示
14:40~15:20 Protecting High-value Devices Against Power-Related Damage
有效保護高性能元件避免高功率造成之損壞
祁子年 / 是德科技資深專案經理
15:20~15:30 Lucky Draw 幸運摸彩
 
 

活動資訊

日期 時間 地點 活動代號
2015/4/14 08:40~15:30 中科院龍園 W48 館一樓 第一研討室
桃園市龍潭區高平村龍源路 134 巷566 號 map
15_EV_050606


注意事項:

  • 活動地點在中研院龍園,參加者請攜帶雙證件 (身分證及健保卡)。
  • 本次活動若適逢天災(地震、颱風等)不可抗拒之因素,並依人事行政局停止上班之公告而定,將延期舉辦時間另行通知。
  • 若因不可預測之突發因素,主辦單位得保留研討會課程及講師之變更權利。
  • 主辦單位保留報名資格之最後審核權利,並於活動前陸續以電子郵件方式通知「報到編號」,以確認您的參加. 若您未收到「報到通知」歡迎撥打客服電話 0800-047-866 查詢。
  • 基於本場活動通知及聯繫使用,是德科技將保有您的個人資訊,將透過 Email、EDM、電話、簡訊、傳真等方式提供您豐富的產品及研討會等相關訊息。
  • 您瞭解並同意是德科技為客戶管理、服務等目的,在您於本活動報名表上所勾選同意之範圍內,得蒐集、處理、利用您所提供的個資,並將其提供予本活動的合作夥伴。這些合作夥伴可能會將您的個人資料用於提供後續產品及服務事宜,與您進行商務接洽。除上述目的、法令要求及您勾選同意外,是德科技會妥善保存您提供的資料,不會將這些資料提供予第三人或挪為他用。
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報名聯絡人:陳佩琪 0956-730707  /  (02)86611000